课程背景：
五大工具，即产品质量先期策划和控制计划(APQP)、潜在失效模式及后果分析(FMEA)、统计过程控制(SPC)、测量系统分析(MSA)、生产件批准程序(PPAP)构成了TS16949的核心。为提升制造型企业的研发能力和质量管理水平，设计了五大工具的课程。
课程收益：
1、深刻理解SPC&MSA的基本概念
2、掌握产品变差和测量变差统计分析的原理和方法
3、能熟练运用EXEL及MINITAB制作控制图、进行过程能力分析和计量及计数型测量系统的分析判定
课程对象:
管理者代表、顾客代表、产品技术经理、质量经理、项目经理、设计工程师、制造工程师、质量工程师、过程审核员和其他直接参与新产品或新制造过程开发、过程标准化和过程改进的人员。
课程天数：三天
课程受益：
1. 对过程做出可靠的评估；
2. 判断过程是否失控和过程是否有能力；
3. 为过程提供一个早期报警系统；
4. 减少对常规检验的依赖性。
5. 在培训过程中将会让学员运用Minitab和Excel等工具学习应用SPC，
有助于在实际工作中单独使用Minitab软件做数据统计。
参加人员：
体系负责人、工程技术人员、质量管理人员、现场主要生产和检验人员。
课程大纲：
统计过程控制SPC
一、SPC概述
1、 先进的工具和方法
2、 什么是SPC
3、 SPC在生产中运用的目的
4、 为什么控制图能预防不合格品产生
5、 SPC与检验的区别
6、 SPC兴起的背景
二、基本统计概念
1、 样本
2、 均值
3、 变差
4、 极差
5、 标准差（总体、样本）
6、 常态分布
7、 受控状态
8、 普通原因和特殊原因
9、 过程能力
10、过度调整
三、控制图
1、 概述
2、 控制图的构成
3、 控制图的基本原理
4、 控制图的要素
5、 控制图分类
6、 数据的类型
7、 控制图运用的时机
8、 制作控制图的注意事项
9、 控制图绘制流程
四、Xbar----R图应用
1、 选择需控制的产品质量特征值
2、 确定抽样方案
3、 确定抽样方案
4、 确定中心线和控制限
5、 绘制X(bar) -R控制界限
6、 描点
7、 何时应该重新计算控制界限
8、 受控分析
9、 过程能力计算
10、Cp,Cpk与Pp,Ppk的区别
五、其他常用控制图介绍
1、 計量值控制图
平均值标准差控制图
中位数与全距控制图
单值与移动全距控制图
2、 计数值控制图
不良率控制图
不良数控制图
缺点数控制图
单位缺点数控制图
六、非常规控制图突发型
1、预控制图
2、停止灯控制图
测量系统分析MSA
一、基础概念
1、测量
2、测量过程
3、测量系统
4、测量过程变差
5、位置变差和宽度变差
6、测量过程变差来源
7、测量系统变差对决策的影响
8、标准及可追溯性
9、测量数据的质量
10、测量系统分析
11、测量仪器分辨率
12、测量不确定度
13、准确度
14、偏移
15、稳定性
16、线性
17、重复性
18、再现性
二、测量系统分析的方法
1、测量系统分析的准备
2、测量系统分析的两个阶段
3、测量系统分析的方法
计量型
偏移
稳定性
线性
重复性
再现性
计数型
小样法
大样法
4、各种测量系统分析方法软件
三、测量系统分析的步骤
1、决定要分析的测量系统
2、取样,确定测量人员
3、确定测量次数
4、输入数据到EXCEL表格中
5、计算结果
6、分析控制图
7、进行判定和采取相应措施
四、案例分析
1、偏移
2、稳定性
3、线性
4、重复性
5、再现性
6、小样法
7、大样法
五、练习
六、实施测量系统分析的建议
授课形式：
知识讲解、案例演示讲解、实战演练、小组讨论、互动交流、游戏感悟、头脑风暴、强调学员参与。
